Давитадзе Сулхан Тамазович

Давитадзе Сулхан Тамазович - дата рождения 16/08/74. Закончил(а) Физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова, 1998 г.. Получена специальность: физика твердого тела. Работает в Физический факультет МГУ им. М.В.Ломоносова. На данный момент перебывает на должности аспирант. Рабочий адрес: Москва 119899, Физический факультет МГУ им.М.В. Ломоносова, КОФЕФ. Телефон: 939-29-58 или 939-11-28.

Научная работа: Физика тонких пленок сегнетоэлектрических материалов: исследования структуры, тепловых свойств, фазовых превращений; изучение влияния размерных эффектов на свойства подобных квазидвумерных систем. Разработана новая методика исследования тепловых свойств тонких пленок диэлектрических материалов, напыленных на подложку, с помощью динамического метода периодического нагрева. Показана возможность измерения теплоемкости, теплопроводности, тепловой активности и температуропроводности пленок толщиной от 50 нм. С помощью нового метода впервые исследованы тепловые свойства сегнетоэлектрических поликристаллических пленок Ba(1-x)Sr(x)TiO(3) (интерес к которым в последние годы сильно возрос в связи с перспективностью применения таких пленок в микроэлектронике) толщиной 1.5 -1.7 мкм при различнах концентрациях Sr (x = 0; 0.1; 0.2; 0.5; 0.8) в широком интервале температур (100 - 400 К). Обнаружены четкие аномалии теплоемкости и теплопроводности в окрестности сегнетоэлектрического фазового перехода. Показано, что вместе с уменьшением температуры фазового перехода от 395 К (х = 0) до 105 К (х = 0.8) происходит все большее размытие аномалии теплоемкости и что тепловые свойства пленок (толщиной 1.5 -1.7 мкм) практически идентичны свойствам массивного материала. Также впервые исследованы тепловые свойства пленок BaTiO(3) и Ba(0.9)Sr(0.1)TiO(3) при различных толщинах: 0.07, 0.11, 0.44, 1, 1.5 мкм. Показано, что при толщинах 0.07, 0.11 мкм наблюдается уменьшение амплитуды и увеличение размытия аномалии теплоемкости пленок, а также уменьшение температуры фазового перехода, что, скорее всего, является проявлением размерных эффектов. Проведенные исследования структуры пленок с помощью силового атомного микроскопа показали, что размеры кристаллитов, составляющих пленки, практически одинаковы для пленок толщиной 0.4 - 2 мкм: 160 - 170 нм, однако для пленок толщиной 0.07, 0.11 они меньше: 110 - 120 нм, что, по-видимому, обуславливает наблюдавшиеся изменения тепловых свойств этих пленок.

Список публикаций: 1. С.Н.Кравчун, С.Т.Давитадзе, Н.С.Мизина, Б.А.Струков,
Измерение тепловых свойств тонких диэлектрических пленок зондовым методом периодического нагрева. 1.Теория метода //
ФТТ, 39, 4, стр.762, 1997;
2. С.Т.Давитадзе, С.Н.Кравчун, В.А.Струков, Б.М.Гольцман, В.В.Леманов, С.Г.Шульман,
Экспериментальные исследования тепловых свойств тонких  пленок зондовым методом периодического нагрева //
ФТТ, 39, 7, стр.1299, 1997;
3. S.T.Davitadze, S.N.Kravchun, N.S.Mizina, B.A.Strukov, B.M.Goltzman, V.V.Lemanov, S.G.Shulman,
Measurement of thermal properties of thin dielectric films and anisotropic solids by ac hot-strip method //
Ferroelectrics , 208-209, p. 279, 1998;
4. S.T.Davitadze, S.N.Kravchun, B.A.Strukov, B.M.Goltzman, V.V.Lemanov, S.G.Shulman,
The measuring of thermal properties of thin dielectric films with the use of periodical heating probe method //
Journal of the Korean Physical Society, 32, 253, 1998;
5. B.A.Strukov, S.T.Davitadze, S.N.Kravchun, V.V.Lemanov, B.M.Goltzman, S.G.Shulman,
Experimental study of the thermal properties of Ba1-xSrxTiO3 thin films on a substrate //
NATO Science Series, 3. High Technology, 77, p.279, 2000.